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磁阻法測厚儀,漆膜測厚儀

leeb253型磁阻法測厚儀,漆膜測厚儀是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、*地進(jìn)行磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度的測量；廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域；該儀器體積小、測頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場測量。
leeb253型磁阻法測厚儀,漆膜測厚儀符合以下標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T4956─1985磁性方法；
JJG818-95《磁阻法測厚儀》；
JB/T8393-1996磁性和渦流覆層測厚儀。
leeb253型磁阻法測厚儀,漆膜測厚儀功能與特點
采用了磁性測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性；
覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)；
可進(jìn)行零點校準(zhǔn)及二點校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對測頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；
具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；
具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)；
具有米、英制轉(zhuǎn)換功能；
具有欠壓指示功能；
操作過程有蜂鳴聲提示；
具有錯誤提示功能；
具有自動關(guān)機(jī)功能。
leeb253型磁阻法測厚儀,漆膜測厚儀技術(shù)參數(shù)
測頭類型：F；
測量原理：磁感應(yīng)；
測量范圍：0-6000um；
低限分辨力：1μm(10um以下為0.1um)；
探頭連接方式：一體化；
示值誤差：
一點校準(zhǔn)(um)：±[3%H+1]；
兩點校準(zhǔn)(um)：±[（1%~3%）H+1]；
測量條件：
*小曲率半徑(mm)：凸1.5|凹9；
基體*小面積的直徑(mm)：ф7；
*小臨界厚度(mm)：0.5；
溫濕度：0~40℃|20%RH～90%RH；
工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)；
測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；
上下限設(shè)置：無；
關(guān)機(jī)方式：自動；
電源：二節(jié)3.6V鎳鎘電池；
外形尺寸：150×55.5×23mm；
重量：150g。
leeb253型磁阻法測厚儀,漆膜測厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置
leeb253主機(jī)；
鐵基體；
標(biāo)準(zhǔn)片一套；
充電器；
使用說明書；
合格證書；
包裝箱。
可選配
鐵基體；
標(biāo)準(zhǔn)片。